• 陶瓷成分分析仪 分析速度快 加大仪器内部空间
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产品描述

颜色米白色 可测元素钠-铀 重量180KG 可售卖地全国 工作温度15-30度

X荧光光谱仪优点:

1、分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟可以测完样品中的全部待测元素;

2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定;

3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好;

4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析;

5、分析精密度高;

6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。


X荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪(波谱仪,WDXRF)和能量色散型X荧光光谱仪(能谱仪,EDXRF),我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器,X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,检出限到2pg。


陶瓷成分分析仪

X荧光光谱仪是一种的、非破坏式的物质测量方法,X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线,这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法,考古学和艺术品,例如油画和壁画。


陶瓷成分分析仪

X荧光光谱仪是一种较新型的可以对多元素进行同时测定的仪器,在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光),波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。


陶瓷成分分析仪

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