分析方法能量色散X荧光分析方法
测量元素范围镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
同时检测元素数几十种元素可同时分析
处理器和内存CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储最大支持32G，标配2G，可以海量存储数据
含量范围ppm～99.99%
检测时间3-30秒
GPS、WIFI内置系统
检测对象固体、液体、粉末
探测器25mm2 0.3mil，SDD探测器
探测器分辨率最低可达139eV
激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
视频系统高清晰摄像头
显示屏半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是640*480
检出限最低检出限达ppm级
安全性自带密码管理员模式，数据可随意保存
可充气系统常压充氦气系统
数据传输数字多道技术，SPI数据传输，分析，高计数率
操作环境湿度≤90%
仪器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
仪器重量1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）
手持光谱仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器，主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成，由于其便携具有便携、准确等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。尤其适合于不锈钢材料的牌号确认以及定量测量元素。
对于金属制造行业来说 ,质量控制和非常重要。材料检验是确保金属制品使用合格材质的关键。如 果使用不合格的金属合金,会引起灾难性事故,给企业 带来巨大的经济损失。手持合金成分分析仪是检测金属材料是否合格的关键性手段。有了手持式合金分析仪，质量控制以及检测人员可以 在完全无损的条件下,每天地检测上千个金属合金样 品。即使是普通工作人员也有把握地将大量的 样 品 测 出 完 整 而 准确 的 结 果 。测试时间是1~2秒,无需制备样品,从金属细丝到成品焊点,螺钉, 金属板 ——所有这些样品都可以被手持分析仪检测。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非授权人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时
手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知，只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。
技术参数： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激发源： X射线管，Ag靶，40kV 检测器： SI-PIN检测器 操作系统：HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 软件 冷却系统：Peltier 半导体冷却系统 电源： 交、直流供电;充电锂电池 工作条件：温度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 湿度：0～95%
手持式光谱仪使用注意事项
1.使用手持式光谱仪应注意防护，手持测试时，测试窗口切勿对人，勿空打。
2.分析仪应拿妥，带好腕带，切勿摔落及撞击。
3.不能用指甲掐电源键等塑料按键，要用指腹操作，以免损坏塑胶键。
4.手持式光谱仪操作环境温度为-5℃~25℃，端使用温度为-10℃~49℃，不能将手持式光谱仪放在汽车后备箱等高温地方，若手持式光谱仪过热，应停止工作、关机使其冷却10分钟左右，再重新开机、校正使用。 5.不能检测磁性材料，否则造成手持式光谱仪损坏，不使用时应确实关机并放入手持式光谱仪箱中存放。
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